鋁殼電阻公司指出，在鋁殼電阻的工作條件和環(huán)境條件下，導(dǎo)電膜層中的非晶結(jié)構(gòu)趨于以恒定速率結(jié)晶。即導(dǎo)電材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)趨于精細(xì)，這往往會導(dǎo)致電阻降低，并且隨著溫度的升高結(jié)晶速度加快。
鋁殼電阻高溫電負(fù)載老化：無論如何，電負(fù)載會加速鋁殼電阻老化的進(jìn)程，電負(fù)載由于溫度而加速鋁殼電阻老化的作用比加速更顯著。原因是鋁殼電阻與帽蓋接觸部分的溫升超過了鋁殼電阻的平均溫升，溫度每升高10℃，壽命通常會縮短一半。如果鋁殼電阻在額定負(fù)載下因過載而溫度超過50℃，則鋁殼電阻的壽命將是正常壽命的1/32。不到 4 個月的加速壽命測試可以評估鋁殼電阻 10 年的運行穩(wěn)定性。
氧化鋁殼電阻
鋁殼電阻直流負(fù)載電解：在直流負(fù)載下電解導(dǎo)致電阻劣化。槽內(nèi)電阻槽發(fā)生電解，鋁殼電阻中所含的堿金屬離子在槽間電場中發(fā)生位移，產(chǎn)生離子電流。在水分存在的情況下，電解過程變得更加激烈。
壓縮鋁殼電阻
如果鋁殼電阻膜是碳膜或金屬膜，主要是電解氧化；如果電阻膜是金屬氧化膜，主要是電解還原。在高阻薄膜電阻中，由于電解作用，電阻值增大，沿凹槽螺旋側(cè)可能發(fā)生薄膜斷裂。通過在潮濕環(huán)境下進(jìn)行直流負(fù)載測試，可以評估電阻基材和薄膜層的所有抗氧化或抗還原性能，以及保護(hù)層的防潮性能。
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